“風(fēng)華3號(hào)”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對(duì)模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號(hào)完整性與動(dòng)態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對(duì)ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量，確保醫(yī)療顯示場(chǎng)景下的灰階過(guò)渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測(cè)試閉環(huán)。多通道分組測(cè)試，支持64/128/256可選配置，大幅提升檢測(cè)效率。高性能高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

HBM接口動(dòng)輒上千個(gè)高速信號(hào)引腳，數(shù)據(jù)速率高達(dá)Gbps級(jí)別，對(duì)測(cè)試設(shè)備的通道密度、測(cè)試速率與時(shí)序精度提出極限挑戰(zhàn)。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)以400MHz測(cè)試速率和**2048個(gè)數(shù)字通道的強(qiáng)大配置，從容應(yīng)對(duì)HBM接口的高并發(fā)、高速邏輯測(cè)試需求。其128M向量存儲(chǔ)深度可完整運(yùn)行復(fù)雜協(xié)議測(cè)試Pattern，確保功能覆蓋無(wú)遺漏。更關(guān)鍵的是，GT600支持512Sites高并行測(cè)試，大幅提升測(cè)試吞吐量，**降低AI芯片的單顆測(cè)試成本。在HBM驅(qū)動(dòng)的算力**中，GT600不**是測(cè)試工具，更是提升國(guó)產(chǎn)AI芯片量產(chǎn)效率與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的**引擎。珠海GEN3測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格GT600通過(guò)高采樣率動(dòng)態(tài)電流監(jiān)測(cè)捕獲電流波形，若峰值電流超過(guò)安全閾值，可判定存在電源設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)。

面對(duì)AI眼鏡出貨量激增（IDC預(yù)計(jì)2025年全球達(dá)1280萬(wàn)副），量產(chǎn)測(cè)試效率成為關(guān)鍵瓶頸。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持**512Sites并行測(cè)試，**提升測(cè)試吞吐量，降低單顆SoC測(cè)試成本，滿足高量產(chǎn)型號(hào)的產(chǎn)能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式導(dǎo)出，便于測(cè)試數(shù)據(jù)與MES系統(tǒng)對(duì)接，實(shí)現(xiàn)良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺(tái)與分選機(jī)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測(cè)試流程，提升測(cè)試一致性與可靠性。對(duì)于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)可同時(shí)驗(yàn)證其神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理功能與低功耗行為，確保端側(cè)AI性能與續(xù)航的雙重達(dá)標(biāo)。

AI眼鏡SoC普遍采用40nm以下工藝，集成高精度ADC、DAC、PLL、LDO等模擬模塊，用于麥克風(fēng)陣列信號(hào)采集、骨傳導(dǎo)音頻輸出與電源穩(wěn)壓。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與20/24bit分辨率Digitizer，可用于語(yǔ)音前端信號(hào)鏈的INL、DNL、THD、SNR等參數(shù)測(cè)試，確保AI語(yǔ)音識(shí)別輸入的準(zhǔn)確性。其高精度浮動(dòng)SMU板卡支持寬電壓范圍輸出，可用于LDO負(fù)載調(diào)整率、PSRR及上電時(shí)序驗(yàn)證，保障音頻與傳感模塊的電源穩(wěn)定性。GT600的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、模擬、混合信號(hào)板卡混插，實(shí)現(xiàn)從NPU到傳感器接口的一站式測(cè)試，避免多設(shè)備切換帶來(lái)的數(shù)據(jù)割裂。導(dǎo)電陽(yáng)極絲（CAF）現(xiàn)象是導(dǎo)致電路失效的重要原因之一。

GT600每通道集成PPMU，具備nA級(jí)電流分辨率。在電源門控測(cè)試中，將PPMU連接至被門控模塊的電源引腳（VDD）或地引腳（VSS），在門控信號(hào)（PG_EN）關(guān)閉后，測(cè)量該模塊的靜態(tài)電流（IDDQ）。若電流**高于設(shè)計(jì)預(yù)期（如>1μA），則表明存在異常漏電，可能由工藝缺陷或電源開(kāi)關(guān)未完全關(guān)斷導(dǎo)致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同時(shí)監(jiān)測(cè)主電源域與被門控電源域的電流。測(cè)試時(shí)，保持主邏輯供電，關(guān)閉目標(biāo)模塊的電源門控信號(hào)，通過(guò)對(duì)比門控前后該域電流的變化，精確提取**由門控網(wǎng)絡(luò)控制的漏電成分，排除其他模塊干擾。GT600支持電壓掃描（VoltageSweeping）和溫控聯(lián)動(dòng)（通過(guò)探針臺(tái)接口），可在高溫（如125°C）和高電壓條件下進(jìn)行測(cè)試，放大漏電效應(yīng)，提升缺陷檢出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下測(cè)量關(guān)斷電流，可暴露常溫下難以發(fā)現(xiàn)的微小漏電。通過(guò)GTFY軟件系統(tǒng)編寫(xiě)C++腳本，可自動(dòng)化執(zhí)行：施加正常工作電壓；發(fā)送指令進(jìn)入低功耗模式并觸發(fā)電源門控；延時(shí)穩(wěn)定（如10ms）；啟動(dòng)PPMU進(jìn)行電流采樣；重復(fù)多次以驗(yàn)證一致性。該流程確保測(cè)試可重復(fù)，并能捕捉間歇性漏電。支持遠(yuǎn)程監(jiān)控，讓您隨時(shí)隨地掌握測(cè)試進(jìn)程。贛州CAF測(cè)試系統(tǒng)生產(chǎn)廠家

內(nèi)置多重報(bào)警功能，為您的測(cè)試安全保駕護(hù)航。高性能高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)

AISoC的NPU模塊不**需要功能驗(yàn)證，更需精確的參數(shù)測(cè)試與功耗評(píng)估。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)配備每通道PPMU，可實(shí)現(xiàn)nA級(jí)靜態(tài)電流（IDDQ）測(cè)量，**識(shí)別AI芯片在待機(jī)、低功耗模式下的漏電異常。其可選配高精度浮動(dòng)SMU板卡，支持多電源域**供電與電流監(jiān)測(cè)，用于驗(yàn)證DVFS（動(dòng)態(tài)電壓頻率調(diào)節(jié)）和電源門控（PowerGating）策略的有效性。此外，國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的GT-TMUHA04時(shí)間測(cè)量單元提供10ps分辨率，可精確測(cè)量NPU喚醒延遲、中斷響應(yīng)時(shí)間等關(guān)鍵時(shí)序參數(shù)，確保AI任務(wù)的實(shí)時(shí)性與響應(yīng)速度。高性能高阻測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)