在現(xiàn)代手機SoC中，高速接口如LPDDR5內(nèi)存、PCIe4.0存儲、USB3.2/4.0數(shù)據(jù)傳輸?shù)?，已成為性能瓶頸的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其協(xié)議復(fù)雜、時序嚴苛，對測試設(shè)備的速率和深度提出極高要求。國磊GT600支持400MHz測試速率，可精細模擬高速信號邊沿與時鐘同步，確保接口在極限頻率下穩(wěn)定工作；其128M超大向量深度，足以容納完整的AI大模型推理流程、多任務(wù)并發(fā)調(diào)度等長周期測試用例，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足頻繁加載數(shù)據(jù)導(dǎo)致的測試中斷或覆蓋不全，真正實現(xiàn)“一次加載，全程跑完”，保障功能驗證的完整性與可靠性。國磊GT600在400MHz速率下測試SerDes、GPIO、I2C、SPI、UART等接口的通信功能完成高速接口功能驗證。GEN3測試系統(tǒng)工藝

作為國產(chǎn)**測試裝備的**，GM8800多通道絕緣電阻導(dǎo)電陽極絲測試系統(tǒng)由杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司自主研發(fā)，具備強大的電化學(xué)遷移（CAF）試驗?zāi)芰ΑＴ撓到y(tǒng)可在8秒內(nèi)完成全部256通道的快速掃描與電阻計算，支持每15ms完成單通道測試，***監(jiān)控離子遷移過程中電阻值的變化，有效判斷絕緣劣化趨勢。GM8800提供1~600分鐘可調(diào)的測試間隔，測試持續(xù)時間**長可達9999小時，配合UPS斷電保護（30/60/120分鐘可選），確保長時間測試的可靠性。其數(shù)據(jù)采集參數(shù)包括采樣時間、運行時間、電阻、電流、施加電壓、溫度與濕度，用戶可通過功能強大的軟件系統(tǒng)進行實時分析與遠程監(jiān)控，實現(xiàn)電腦與移動終端同步操作。與價格高昂的英國GEN3設(shè)備相比，GM8800在測試效率、系統(tǒng)集成度和本地服務(wù)支持方面具備明顯優(yōu)勢，是中**半導(dǎo)體和電子制造企業(yè)實現(xiàn)高質(zhì)量、低成本測試的理想解決方案。GEN3測試系統(tǒng)工藝國磊GT600測試機模塊化16插槽架構(gòu)可同時集成數(shù)字、AWG、TMU、Digitizer板卡，實現(xiàn)HBM系統(tǒng)級混合信號測試。

    對國產(chǎn)車而言，其自研車規(guī)級MCU（微控制器）與功率半導(dǎo)體是智能汽車“大腦”與“肌肉”的**，必須通過AEC-Q100、AEC-Q101等汽車行業(yè)**嚴苛的可靠性認證，確保在-40℃~150℃極端溫度、高濕、強振動、長期高負載等惡劣環(huán)境下仍能穩(wěn)定運行十年以上。國磊GT600SoC測試機正是這一“車規(guī)級體檢”的關(guān)鍵設(shè)備。其每通道PPMU（精密參數(shù)測量單元）可精細測量nA級靜態(tài)漏電流（Iddq），識別芯片內(nèi)部微小缺陷或工藝波動導(dǎo)致的“潛伏性失效”，從源頭剔除“體質(zhì)虛弱”的芯片；同時支持引腳級開路/短路測試，確保封裝無瑕疵。更關(guān)鍵的是，國磊GT600可選配浮動SMU電源板卡，能靈活模擬車載12V/24V供電系統(tǒng)，驗證MCU在電壓波動、負載突變等真實工況下的電源管理能力，防止“掉電重啟”或“邏輯錯亂”。此外，國磊GT600支持高溫老化測試（Burn-in）接口，可配合溫控系統(tǒng)進行早期失效篩選，大幅提升車載芯片的長期可靠性。在汽車“缺芯”與“安全至上”的雙重背景下，國磊GT600可以為國產(chǎn)車構(gòu)建從研發(fā)到量產(chǎn)的高可靠測試閉環(huán)，守護每一程出行安全。

國磊GT600支持400MHz高速測試與128M超大向量深度，足以運行手機芯片內(nèi)部復(fù)雜的AI推理算法、多任務(wù)調(diào)度協(xié)議等長周期測試程序，避免傳統(tǒng)設(shè)備因內(nèi)存不足導(dǎo)致的“中斷加載”，大幅提升測試覆蓋率和效率。其512站點并行測試能力，更可滿足手機芯片大規(guī)模量產(chǎn)需求，***降低測試成本。更重要的是，國磊GT600采用開放式GTFY系統(tǒng)，支持C++自主編程，工程師可深度定制測試流程，無縫對接內(nèi)部研發(fā)與生產(chǎn)體系，實現(xiàn)從實驗室到工廠的快速轉(zhuǎn)化。在外部供應(yīng)鏈受限的背景下，國磊GT600作為國產(chǎn)**測試設(shè)備，可以為國產(chǎn)手機芯片的持續(xù)迭代與穩(wěn)定量產(chǎn)，提供堅實、安全、可控的底層保障。國磊GT600SoC測試機512Sites高并行測試架構(gòu)，提升集成了HBM的AI/GPU芯片的測試吞吐量。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司深刻洞察國內(nèi)產(chǎn)業(yè)對**測試裝備的迫切需求，成功研發(fā)了GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)具備強大的256通道并行測試能力，電阻測量范圍高達10^14Ω，測量精度優(yōu)異，能夠精細評估PCB內(nèi)部、封裝材料、基板等在不同偏壓和濕熱條件下的絕緣電阻變化趨勢，有效預(yù)警因?qū)щ婈枠O絲生長導(dǎo)致的短路風險。GM8800提供高度靈活的電壓輸出配置，內(nèi)置精密源表單元（0V~±100V），外接偏置電壓可達3000V，電壓控制精度高，上升速度快，且測試電壓穩(wěn)定時間可自由設(shè)定（1~600秒），完美適配各種加速測試方案。系統(tǒng)***集成數(shù)據(jù)采集功能，實時記錄時間、電阻、電流、電壓、溫度、濕度等參數(shù)，并通過專業(yè)軟件進行自動化數(shù)據(jù)分析和可視化展示，支持遠程監(jiān)控功能。其設(shè)計注重安全與可靠性，配備多層次報警系統(tǒng)（低阻、停機、環(huán)境參數(shù)、電源、軟件狀態(tài)）和斷電保護機制。與英國GEN3等進口產(chǎn)品相比，GM8800在**性能指標上達到國際先進水平，同時擁有更優(yōu)的通道性價比、更低的運維成本和更便捷的本土化服務(wù)支持，已成為國內(nèi)**的PCB制造商、芯片封裝廠、汽車電子供應(yīng)商及科研機構(gòu)進行產(chǎn)品可靠性研究與品質(zhì)管控的可靠伙伴，助力中國智造邁向新高。先進節(jié)點（如28nm及以下）漏電更敏感，國磊GT600的PPMU可測nA級電流，滿足FinFET等工藝的低功耗驗證需求。常州PCB測試系統(tǒng)工藝

國磊GT600SoC測試機可以通過GPIB/TTL接口聯(lián)動探針臺與分選機，實現(xiàn)全自動測試。GEN3測試系統(tǒng)工藝

國磊半導(dǎo)體自研GM8800多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)是專為苛刻的可靠性測試環(huán)境而設(shè)計的精密儀器。該系統(tǒng)以16通道為模塊，可靈活堆疊至256通道，實現(xiàn)大規(guī)模、高效率的絕緣電阻監(jiān)測，其測量范圍寬廣（10^4~10^14Ω），精度在不同阻值區(qū)間均得到嚴格控制，能夠滿足從普通電子元件到特種絕緣材料的高阻測試需求。GM8800提供精確且穩(wěn)定的電壓激勵源，內(nèi)置0V~±100V，外接高達3000V，電壓輸出精度高，步進調(diào)節(jié)細膩，并具備快速的電壓建立能力，確保測試應(yīng)力施加的準確性和一致性。系統(tǒng)支持用戶自定義測試間隔（1~600分鐘）和總測試時間（1~9999小時），并集成實時環(huán)境監(jiān)測與多維度安全報警功能（包括低阻、測試中斷、溫濕度異常、電壓超限、AC電源故障、軟件異常等），可選配UPS提供斷電保護。其智能軟件系統(tǒng)集控制、采集、分析、遠程監(jiān)控于一體，操作直觀，功能***。相較于傳統(tǒng)的進口設(shè)備如英國GEN3，GM8800在提供同等前列測量性能的同時，***降低了設(shè)備的綜合擁有成本，并且憑借本地化的研發(fā)與支持團隊，能夠提供更快速、更貼近用戶實際應(yīng)用需求的技術(shù)服務(wù)與解決方案，廣泛應(yīng)用于新能源汽車、光伏儲能、通信設(shè)備、航空航天等領(lǐng)域的絕緣可靠性驗證與質(zhì)量保證活動。GEN3測試系統(tǒng)工藝