國(guó)磊半導(dǎo)體GM8800多通道絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)是國(guó)產(chǎn)**儀器替代進(jìn)口的典范。該系統(tǒng)支持比較高256個(gè)測(cè)試點(diǎn)的同步監(jiān)測(cè),電阻測(cè)量范圍覆蓋10^4~10^14Ω,精度依據(jù)不同區(qū)間控制在±3%至±10%,性能指標(biāo)對(duì)標(biāo)國(guó)際前列產(chǎn)品。GM8800提供從1V到3000V的寬范圍可編程偏置電壓,內(nèi)置電源精度優(yōu)異,外接高壓穩(wěn)定可靠,電壓上升速度快,并可設(shè)置1~600秒的測(cè)試電壓穩(wěn)定時(shí)間,確保測(cè)試條件的精確性與可重復(fù)性。系統(tǒng)具備***的數(shù)據(jù)采集能力,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄電阻、電流、電壓、溫度、濕度等所有關(guān)鍵參數(shù),采用完全屏蔽線纜以保障信號(hào)。其軟件平臺(tái)功能強(qiáng)大,提供測(cè)試控制、實(shí)時(shí)顯示、歷史數(shù)據(jù)分析、報(bào)警管理、報(bào)告生成及遠(yuǎn)程訪問(wèn)等功能。在系統(tǒng)保護(hù)方面,GM8800設(shè)計(jì)了完善的報(bào)警機(jī)制(涵蓋低阻、測(cè)試狀態(tài)、環(huán)境條件、電源、軟件健康度)和UPS斷電保護(hù)選項(xiàng)。相較于價(jià)格高昂的英國(guó)GEN3設(shè)備,GM8800在提供同等***性能的同時(shí),***降低了用戶的初始投資和長(zhǎng)期持有成本,并且憑借公司本地化的優(yōu)勢(shì),能夠提供更及時(shí)、更有效的技術(shù)支持和定制化服務(wù),完美滿足新能源汽車、儲(chǔ)能系統(tǒng)、5G通信、航空航天等領(lǐng)域?qū)Ω咝阅芙^緣可靠性測(cè)試設(shè)備的迫切需求,加速了產(chǎn)業(yè)鏈的自主可控進(jìn)程。國(guó)磊GT600可使用AWG生成模擬輸入信號(hào),Digitizer捕獲輸出,計(jì)算INL、DNL、SNR、THD等指標(biāo)。國(guó)產(chǎn)GEN3測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)

“風(fēng)華3號(hào)”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU,對(duì)模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器(THD-122dB,SNR110dB)與高分辨率Digitizer板卡,可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號(hào)完整性與動(dòng)態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對(duì)ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測(cè)量,確保醫(yī)療顯示場(chǎng)景下的灰階過(guò)渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插,實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測(cè)試閉環(huán)。國(guó)磊SIR測(cè)試系統(tǒng)廠家支持定制化線纜長(zhǎng)度,適應(yīng)各種測(cè)試環(huán)境需求。

杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800多通道絕緣電阻導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)是國(guó)產(chǎn)**測(cè)試裝備邁向國(guó)際先進(jìn)水平的重要標(biāo)志。該系統(tǒng)憑借其可擴(kuò)展的256通道架構(gòu)、高達(dá)10^14Ω的電阻檢測(cè)上限以及優(yōu)異的測(cè)量精度,能夠***滿足IPC、JEDEC等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)CAF測(cè)試的嚴(yán)苛要求。GM8800提供從1V到3000V的寬范圍可編程偏置電壓,內(nèi)置電源精度優(yōu)于±0.05V@100VDC,電壓上升速度快,并允許用戶自定義1~600分鐘的測(cè)試間隔和1~9999小時(shí)的測(cè)試持續(xù)時(shí)間,完美適配各種加速壽命測(cè)試方案。系統(tǒng)集成多參數(shù)同步采集功能,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電阻、電流、電壓、溫度、濕度等關(guān)鍵數(shù)據(jù),并通過(guò)完全屏蔽的線纜傳輸以確保信號(hào)質(zhì)量,其強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析軟件支持歷史數(shù)據(jù)回溯、趨勢(shì)圖表生成及測(cè)試報(bào)告導(dǎo)出。在安全可靠性方面,GM8800設(shè)計(jì)了多層次報(bào)警保護(hù)系統(tǒng)和UPS斷電續(xù)航選項(xiàng),應(yīng)對(duì)各種意外情況。相較于英國(guó)進(jìn)口的GEN3系統(tǒng),GM8800不僅在技術(shù)性能上實(shí)現(xiàn)***對(duì)標(biāo),更在設(shè)備成本、售后技術(shù)支持、軟件界面本地化和功能定制方面展現(xiàn)出強(qiáng)大的競(jìng)爭(zhēng)力,正助力國(guó)內(nèi)集成電路制造、**PCB加工、汽車電子、航空航天等關(guān)鍵領(lǐng)域客戶降低對(duì)進(jìn)口設(shè)備的依賴,實(shí)現(xiàn)供應(yīng)鏈的安全與自主可控。
杭州國(guó)磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司憑借深厚的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)積淀,推出的GM8800多通道絕緣電阻導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)**半導(dǎo)體測(cè)試裝備的重大突破。該系統(tǒng)具備1~3000V寬電壓輸出、比較高256通道同步測(cè)試、10^4~10^14Ω超寬阻值測(cè)量范圍和高達(dá)±3%~±10%的測(cè)量精度,支持實(shí)時(shí)電流檢測(cè)與全參數(shù)監(jiān)控,其軟硬件高度集成,提供豐富的數(shù)據(jù)接口和遠(yuǎn)程控制功能。GM8800不僅滿足IPC、JEDEC等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,更在多項(xiàng)性能指標(biāo)上超越進(jìn)口同類產(chǎn)品如英國(guó)GEN3,尤其在多通道擴(kuò)展能力、定制化服務(wù)及總體擁有成本方面表現(xiàn)突出。杭州國(guó)磊公司以“為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展盡綿薄之力”為使命,通過(guò)GM8800等先進(jìn)測(cè)試系統(tǒng),持續(xù)為集成電路、功率器件、新能源、醫(yī)療電子等領(lǐng)域客戶提供高可靠、高性能、低成本的全流程測(cè)試解決方案,成為中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)國(guó)產(chǎn)替代的中堅(jiān)力量。國(guó)磊GT600SoC測(cè)試機(jī)提供測(cè)試向量轉(zhuǎn)換工具,支持從主流商用ATE平臺(tái)遷移HBM相關(guān)測(cè)試程序,降低導(dǎo)入成本。

HBM的集成不****是帶寬提升,更帶來(lái)了復(fù)雜的混合信號(hào)測(cè)試挑戰(zhàn)。SoC與HBM之間的信號(hào)完整性、電源噪聲、時(shí)序?qū)R(Skew)等問(wèn)題,直接影響芯片性能與穩(wěn)定性。國(guó)磊GT600測(cè)試機(jī)憑借其模塊化設(shè)計(jì),支持AWG、TMU、SMU、Digitizer等高精度模擬板卡,實(shí)現(xiàn)“數(shù)字+模擬”一體化測(cè)試。例如,通過(guò)GT-TMUHA04(10ps分辨率)精確測(cè)量HBM接口時(shí)序偏差,利用GT-AWGLP02(-122dBTHD)生成純凈激勵(lì)信號(hào),**驗(yàn)證高速SerDes性能。GT600將復(fù)雜問(wèn)題系統(tǒng)化解決,為HBM集成芯片提供從DC參數(shù)到高頻信號(hào)的**測(cè)試保障,確保每一顆芯片都經(jīng)得起AI時(shí)代的嚴(yán)苛考驗(yàn)。靈活的分組測(cè)試模式,可單獨(dú)控制16通道為一組。杭州導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試系統(tǒng)研發(fā)
國(guó)磊GT600可配置GT-DPSMV08電源板卡,提供-2.5V~7V電壓范圍與1A驅(qū)動(dòng)能力,覆蓋多種模擬IC的供電測(cè)試場(chǎng)景。國(guó)產(chǎn)GEN3測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)
每一部智能手機(jī)的**都是一顆名為SoC的“超級(jí)大腦”。以蘋果為例,每一代iPhone都搭載自研的A系列或M系列芯片(如A18、M4)。這顆芯片集成了CPU、GPU、NPU、ISP、基帶、內(nèi)存控制器等數(shù)十個(gè)模塊。但這顆芯片在量產(chǎn)前,必須經(jīng)歷SoC測(cè)試機(jī)成千上萬(wàn)次的測(cè)試。比如功能驗(yàn)證:檢查芯片的每一個(gè)邏輯門是否正常工作。當(dāng)你用iPhone拍照時(shí),ISP是否能正確處理圖像?A18芯片的NPU是否能準(zhǔn)確識(shí)別人臉?國(guó)磊GT600芯片測(cè)試機(jī)會(huì)模擬各種使用場(chǎng)景,輸入測(cè)試向量,驗(yàn)證輸出結(jié)果。性能篩選:國(guó)磊GT600SoC芯片測(cè)試機(jī)會(huì)進(jìn)行速度分級(jí)測(cè)試,將芯片分為不同等級(jí)。只有通過(guò)最高速度測(cè)試的芯片,才會(huì)被用于旗艦機(jī)型。功耗與漏電檢測(cè):手機(jī)續(xù)航至關(guān)重要。國(guó)磊GT600芯片測(cè)試機(jī)的PPMU能精確測(cè)量芯片的靜態(tài)電流(Iddq),確保待機(jī)時(shí)不“偷電”,避免手機(jī)“一天三充”??煽啃员U希涸跇O端溫度、電壓下運(yùn)行芯片,篩選出可能早期失效的“弱雞芯片”。國(guó)磊GT600芯片測(cè)試機(jī)支持老化測(cè)試,確保每一顆裝進(jìn)iPhone的芯片都經(jīng)得起長(zhǎng)期使用。混合信號(hào)測(cè)試:現(xiàn)代SoC不僅有數(shù)字電路,還有大量模擬模塊(如音頻編解碼、電源管理)。國(guó)磊GT600芯片測(cè)試機(jī)可選配AWG和TMU,精確測(cè)試這些模擬功能,確保通話清晰、充電穩(wěn)定。國(guó)產(chǎn)GEN3測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)貨直發(fā)