“風(fēng)華3號”作為全球**支持DICOM高精度灰階醫(yī)療顯示的GPU，對模擬輸出精度、色彩一致性與時(shí)序穩(wěn)定性要求極為嚴(yán)苛。國磊GT600測試機(jī)支持可選配GT-AWGLP02任意波形發(fā)生器（THD-122dB，SNR110dB）與高分辨率Digitizer板卡，可用于驗(yàn)證GPU模擬視頻輸出鏈路的信號完整性與動(dòng)態(tài)性能。其20/24bit分辨率支持對ADC/DAC、PLL、LVDS接口等關(guān)鍵模塊的INL、DNL、Jitter等參數(shù)進(jìn)行精確測量，確保醫(yī)療顯示場景下的灰階過渡平滑與色彩還原準(zhǔn)確。國磊GT600測試機(jī)的模塊化16插槽架構(gòu)支持?jǐn)?shù)字、AWG、TMU、SMU板卡混插，實(shí)現(xiàn)從GPU**到顯示輸出的端到端測試閉環(huán)。國磊GT600SoC測試機(jī)通過輸入/輸出電平測試（VIH/VIL,VOH/VOL）驗(yàn)證數(shù)字接口的高低電平閾值與驅(qū)動(dòng)能力。國產(chǎn)替代SIR測試系統(tǒng)價(jià)格

“風(fēng)華3號”**了國產(chǎn)GPU在架構(gòu)創(chuàng)新與生態(tài)兼容上的重大突破，而其成功落地離不開從設(shè)計(jì)到量產(chǎn)的完整驗(yàn)證鏈支撐。國磊GT600測試機(jī)憑借高通道密度、高并行能力（512Sites）、混合信號支持與開放軟件架構(gòu)，已成為**GPU、AI計(jì)算芯片測試的關(guān)鍵基礎(chǔ)設(shè)施。它支持GPIB/TTL接口與探針臺、分選機(jī)聯(lián)動(dòng)，構(gòu)建全自動(dòng)CP/FT測試流程，**提升測試效率與一致性。在國產(chǎn)GPU邁向大模型、醫(yī)療、工業(yè)等**應(yīng)用的進(jìn)程中，國磊GT600測試機(jī)提供從功能、參數(shù)到可靠性的**測試保障，助力中國芯在圖形與計(jì)算領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)自主可控。福州CAF測試系統(tǒng)批發(fā)國磊GT600SoC測試機(jī)可通過GPIB/TTL接口同步探針臺與分選機(jī)，實(shí)現(xiàn)HBM集成芯片的CP/FT自動(dòng)化測試流程。

“風(fēng)華3號”的推出標(biāo)志著國產(chǎn)全功能GPU在大模型訓(xùn)練、科學(xué)計(jì)算與重度渲染領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)從0到1的突破。其集成RISC-VCPU與CUDA兼容GPU架構(gòu)，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生態(tài)，對芯片功能復(fù)雜度、接口帶寬與時(shí)序精度提出了極高要求。此類高性能GPU通常具備數(shù)千個(gè)邏輯引腳、多電源域、高速SerDes接口及復(fù)雜狀態(tài)機(jī)，傳統(tǒng)測試設(shè)備難以完成**驗(yàn)證。國磊GT600測試機(jī)支持**2048個(gè)數(shù)字通道與400MHz測試速率，可完整覆蓋“風(fēng)華3號”類GPU的高引腳數(shù)、高速功能測試需求。其32/64/128M向量存儲深度支持復(fù)雜計(jì)算指令序列的Pattern加載，確保GPU**、NPU單元及RISC-V子系統(tǒng)的功能正確性。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司推出的GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)，是國產(chǎn)設(shè)備在**可靠性測試領(lǐng)域挑戰(zhàn)并超越國際品牌的力證。該系統(tǒng)具備超高的256通道測試容量，電阻測量范圍橫跨10^4~10^14Ω，精度可靠，能夠高效、精細(xì)地評估PCB、基板、封裝體、絕緣材料等在高溫高濕和直流電場下的絕緣可靠性，精確捕捉離子遷移導(dǎo)致的失效。GM8800提供從1.0V到3000V的寬范圍偏置電壓選擇，內(nèi)置精密電源精度達(dá)±0.05V(100VDC內(nèi))，外接高壓穩(wěn)定，電壓上升速率快，并允許用戶自定義測試電壓的穩(wěn)定時(shí)間（1~600秒），以滿足不同標(biāo)準(zhǔn)的預(yù)處理要求。系統(tǒng)集成高精度電流檢測（0.1μA~500μA）和溫濕度傳感器，數(shù)據(jù)采集***，并通過完全屏蔽的低噪聲測量線纜保障信號質(zhì)量。配套軟件功能強(qiáng)大，提供自動(dòng)化測試流程、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)可視化、趨勢分析、報(bào)警管理和報(bào)告生成，并支持遠(yuǎn)程訪問。在系統(tǒng)保護(hù)方面，具備***的硬件與軟件報(bào)警機(jī)制和斷電續(xù)航選項(xiàng)。與英國進(jìn)口GEN3系統(tǒng)相比，GM8800在**功能與性能上實(shí)現(xiàn)***對標(biāo)，更在通道數(shù)量、購置成本、維護(hù)費(fèi)用以及定制化服務(wù)響應(yīng)速度上占據(jù)明顯優(yōu)勢，正成為國內(nèi)**制造業(yè)替代進(jìn)口、實(shí)現(xiàn)自主可控的優(yōu)先測試平臺。GM8800高阻測試系統(tǒng)可長時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行1-9999小時(shí)。

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司推出的GM8800導(dǎo)電陽極絲（CAF）測試系統(tǒng)，是一款專為高精度絕緣電阻與電化學(xué)遷移測試設(shè)計(jì)的**國產(chǎn)設(shè)備。該系統(tǒng)支持16至256通道靈活配置，可同時(shí)對多達(dá)256個(gè)分立測量點(diǎn)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測，電阻測量范圍覆蓋10^6Ω至10^14Ω，測量精度在10^10Ω以下可達(dá)±3%，展現(xiàn)出優(yōu)異的測試一致性。GM8800具備1.0V至3000V的寬電壓測試能力，內(nèi)置0V~±100V電源，外接偏置電壓可達(dá)3000V，支持步進(jìn)電壓精細(xì)調(diào)節(jié)，電壓精度在100VDC內(nèi)達(dá)±0.05V，超出100VDC則為±0.5V，電壓上升速率高達(dá)100V/2ms，系統(tǒng)還集成多類報(bào)警功能，包括低阻、溫濕度異常、電壓超限、AC斷電及軟件異常等，保障測試過程的安全與穩(wěn)定。相比進(jìn)口品牌如英國GEN3，GM8800在通道擴(kuò)展性、電壓范圍和成本控制方面表現(xiàn)更優(yōu)，尤其適合PCB、絕緣材料、焊接工藝及新能源汽車電子等領(lǐng)域的高阻測試需求，是國內(nèi)廠商實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)替代的理想選擇。當(dāng)電源門控開關(guān)未完全關(guān)斷時(shí)被關(guān)閉模塊仍會產(chǎn)生異常漏電。國磊GT600通過PPMU測量被門控電源域的靜態(tài)電流。國磊GEN3測試系統(tǒng)市場價(jià)格

國磊GT600SoC測試機(jī)支持多種面向復(fù)雜SoC的具體測試流程，涵蓋從基本功能驗(yàn)證到高精度參數(shù)測量的完整鏈條。國產(chǎn)替代SIR測試系統(tǒng)價(jià)格

杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備有限公司GM8800多通道絕緣電阻測試系統(tǒng)是專為電子制造業(yè)可靠性驗(yàn)證而打造的精良工具。該系統(tǒng)支持16至256個(gè)通道的靈活配置，實(shí)現(xiàn)大規(guī)模樣品并行加速測試，其電阻檢測能力覆蓋10^4~10^14Ω，測量精度嚴(yán)格控制，能夠滿足國際標(biāo)準(zhǔn)如IPC-TM-650 2.6.25對CAF測試的嚴(yán)苛要求。GM8800提供精確可編程的電壓輸出，內(nèi)置±100V精密電源，外接偏置電壓比較高3000V，電壓控制精度高，切換速度快，且測試電壓穩(wěn)定時(shí)間可根據(jù)材料特性在1~600秒間精確設(shè)置。系統(tǒng)集成高精度電流傳感和環(huán)境溫濕度監(jiān)測，實(shí)時(shí)采集所有關(guān)鍵參數(shù)，并通過完全屏蔽的低噪聲測量架構(gòu)保障數(shù)據(jù)真實(shí)性。配套軟件功能強(qiáng)大，提供自動(dòng)化測試流程、數(shù)據(jù)可視化、趨勢分析、報(bào)警設(shè)置、報(bào)告生成及遠(yuǎn)程控制功能。在系統(tǒng)可靠性方面，設(shè)計(jì)了***的硬件與軟件報(bào)警機(jī)制和UPS斷電保護(hù)選項(xiàng)。相較于英國GEN3等進(jìn)口品牌，GM8800在**測試性能上達(dá)到同等***水平，同時(shí)擁有更優(yōu)的通道經(jīng)濟(jì)性、更低的綜合持有成本和更迅捷的本土技術(shù)服務(wù)，已成為國內(nèi)**的PCB廠商、半導(dǎo)體封裝廠、新能源車企及科研機(jī)構(gòu)進(jìn)行絕緣材料研究、工藝評價(jià)和質(zhì)量控制的信賴之選，助力中國智造邁向高可靠性時(shí)代。國產(chǎn)替代SIR測試系統(tǒng)價(jià)格