作為慣例,在生產(chǎn)中,測試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實際運作中無數(shù)次地證明,*這樣做是遠 遠不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時間內(nèi)要測試一個新批次的 PCB,有可能會發(fā)生這樣的情況:ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色,或者晶體管的引腳變短了、是彎的;或是電阻的顏色由黃色變成了藍色的,等等。AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是,其中的一些變化需要花費時間進行處理, 因為我們不能預(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用,或 是存在一個錯誤的元器件布局。同時,面對質(zhì)量方面的困 難,大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個一致的,確實 可行的說明。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會產(chǎn)生。姑蘇區(qū)附近自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格
例如,根據(jù)回波信號的特點和探傷現(xiàn)場的干擾狀況,選擇不同的濾波器結(jié)構(gòu)、參數(shù)和不同的實時報警策略,這充分體現(xiàn)了虛擬儀器的優(yōu)點。 [2]高速A /D 及數(shù)字檢波技術(shù)超聲波缺陷信號時基時間寬度一般為0. 6~2. 0μs,上升測時間為10~ 40ns ,為了達到不失真采樣,對5M Hz工作頻率的超聲波探頭,至少需要40~60M Hz的采樣速度。傳統(tǒng)的數(shù)字化探傷設(shè)備,由于A /D采樣速度的限制,采樣前需要模擬包絡(luò)檢波。這導(dǎo)致了超聲波缺陷回波的細節(jié)失真,降低了對缺陷的分辨力。另外,由于全波或半波檢波,導(dǎo)致高增益時出現(xiàn)基線抬高的問題,影響了系統(tǒng)性能指標(biāo)。高新區(qū)國內(nèi)自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格回流焊或波峰焊后:少錫/多錫、無錫短接 錫球 漏料-極性-移位腳彎錯件.
AOI(Automated Optical Inspection縮寫)的中文全稱是自動光學(xué)檢測,是基于光學(xué)原理來對焊接生產(chǎn)中遇到的常見缺陷進行檢測的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測試技術(shù),但發(fā)展迅速,很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。當(dāng)自動檢測時,機器通過攝像頭自動掃描PCB,采集圖像,測試的焊點與數(shù)據(jù)庫中的合格的參數(shù)進行比較,經(jīng)過圖像處理,檢查出PCB上缺陷,并通過顯示器或自動標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來,供維修人員修整。 [1]運用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷。PCB板的范圍可從細間距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在線檢測方案,以提高生產(chǎn)效率,及焊接質(zhì)量。通過使用AOI作為減少缺陷的工具,在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤,以實現(xiàn)良好的過程控制。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。
回流焊前檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。這是一個典型地放置檢查機器的位置,因為這里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機器貼放的大多數(shù)缺陷。在這個位置產(chǎn)生的定量的過程控制信息,提供高速片機和密間距元件貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息。這個信息可用來修改元件貼放或表明貼片機需要校準(zhǔn)。這個位置的檢查滿足過程跟蹤的目標(biāo)?;亓骱负笤赟MT工藝過程的***步驟進行檢查,這是AOI當(dāng)下流行的選擇,因為這個位置可發(fā)現(xiàn)全部的裝配錯誤?;亓骱负髾z查提供高度的安全性,因為它識別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。早期發(fā)現(xiàn)缺陷將避免將壞板送到隨后的裝配階段,AOI將減少修理成本將避免報廢不可修理的電路板。
人工檢查 AOI檢查pcb<18*20 幾千個pad以下人 重要 輔助檢查時間 正常 正常持續(xù)性 因人而異 (差) 好可靠性 因人而異 (差) 較好準(zhǔn)確性 因人而異 誤點率高時間 長 短與或非(AND OR INVERT)一種常用邏輯運算實施AOI有以下兩類主要的目標(biāo):**終品質(zhì)對產(chǎn)品走下生產(chǎn)線時的**終狀態(tài)進行監(jiān)控。當(dāng)生產(chǎn)問題非常清楚、產(chǎn)品混合度高、數(shù)量和速度為關(guān)鍵因素的時候,優(yōu)先采用這個目標(biāo)。AOI通常放置在生產(chǎn)線**末端。在這個位置,設(shè)備可以產(chǎn)生范圍***的過程控制信息。成像:按材質(zhì)特性配置光源參數(shù).工業(yè)園區(qū)附近自動化缺陷檢測設(shè)備銷售電話
典型地包括詳細的缺陷分類和元件貼放偏移信息。姑蘇區(qū)附近自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格
缺陷類型:微粒缺陷(如異物污染)圖形缺陷(如光刻圖案偏移) [1-3]2.檢測精度:可實現(xiàn)0.2微米級缺陷的識別,滿足45納米工藝節(jié)點的質(zhì)量控制需求 [1-3]。吞吐量:每小時處理20片300毫米晶圓(基于2021年技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)) [1] [3]適用工藝:45納米及更高制程的集成電路制造 [1-3]主要用于半導(dǎo)體制造環(huán)節(jié)的在線缺陷檢測,覆蓋晶圓前道制程中的關(guān)鍵工藝步驟,確保芯片良率與可靠性 [1-3]。上海集成電路研發(fā)中心有限公司自2011年起使用KLA-Tencor Puma9150型號設(shè)備(截至2020年),同期配備頻譜分析儀、晶邊缺陷檢查設(shè)備等科研儀器 [2-3]。姑蘇區(qū)附近自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格
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