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圖像分析模塊:運(yùn)行閾值分割、形態(tài)學(xué)處理算法 [2-3]2024年實(shí)用新型專利顯示,先進(jìn)系統(tǒng)可集成分揀模塊實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化品質(zhì)分級(jí),檢測(cè)流程耗時(shí)較人工檢測(cè)縮短90% [2]。檢測(cè)算法分為三類技術(shù)路線:傳統(tǒng)圖像處理:采用全局/局部閾值分割進(jìn)行像素分類,配合邊緣檢測(cè)算法提取缺陷輪廓深度學(xué)習(xí)模型:基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的特征提取技術(shù),適用于復(fù)雜背景缺陷檢測(cè)混合模型:結(jié)合傳統(tǒng)算法預(yù)處理與深度學(xué)習(xí)分類,提升微小缺陷識(shí)別率2025年顯示屏缺陷檢測(cè)**顯示,blob分析與幾何位置匹配算法可將重復(fù)缺陷檢出率提升至99.7%。制定設(shè)計(jì)方針,可以有效地簡化檢查和降低生 產(chǎn)成本。吳中區(qū)通用自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家

過程跟蹤使用檢查設(shè)備來監(jiān)視生產(chǎn)過程。典型地包括詳細(xì)的缺陷分類和元件貼放偏移信息。當(dāng)產(chǎn)品可靠性很重要、低混合度的大批量制造、和元件供應(yīng)穩(wěn)定時(shí),制造商優(yōu)先采用這個(gè)目標(biāo)。這經(jīng)常要求把檢查設(shè)備放置到生產(chǎn)線上的幾個(gè)位置,在線地監(jiān)控具體生產(chǎn)狀況,并為生產(chǎn)工藝的調(diào)整提供必要的依據(jù)。雖然AOI可用于生產(chǎn)線上的多個(gè)位置,各個(gè)位置可檢測(cè)特殊缺陷,但AOI檢查設(shè)備應(yīng)放到一個(gè)可以盡早識(shí)別和改正**多缺陷的位置。有三個(gè)檢查位置是主要的:張家港一體化自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷售廠實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和系統(tǒng)化測(cè)試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計(jì)來預(yù)防甚至減少的。

自動(dòng)探傷系統(tǒng)是利用超聲波探傷技術(shù),滿足用戶對(duì)探傷的實(shí)時(shí)性要求,并實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)報(bào)警、 缺陷定位和當(dāng)量計(jì)算的探測(cè)系統(tǒng)。超聲波探傷技術(shù)在無損檢測(cè)領(lǐng)域中占有極其重要的地位。 近年來, 計(jì)算機(jī)軟硬件技術(shù)、 高速數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)、 虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展, 使無損檢測(cè)技術(shù)在數(shù)據(jù)處理手段、 儀器檢測(cè)性能、 設(shè)備系統(tǒng)化和智能化程度方面取得了巨大進(jìn)步。 [1] 目前已經(jīng)誕生了多種數(shù)字化便攜式探傷儀 , 然而自動(dòng)化超聲波探傷系統(tǒng)仍以多通道模擬方式為主自動(dòng)探傷系統(tǒng)中,基于嵌入式DSP 子系統(tǒng)可以滿足用戶對(duì)探傷的實(shí)時(shí)性要求, 實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)報(bào)警、 缺陷定位和當(dāng)量計(jì)算; 另一方面, 利用PC 機(jī)強(qiáng)大的處理能力和豐富的資源, 完成對(duì)缺陷回波信號(hào)的后續(xù)處理。 [2]
PLCCs器件的引腳的焊盤有著不同設(shè)計(jì)。如果是一個(gè) 長焊盤設(shè)計(jì),在PLCC引腳上焊錫的爬升效果是可以檢查 的。如果焊盤保持明亮,那么焊錫已經(jīng)爬升到了引腳端, 所以認(rèn)為器件是焊上了。假如遵循這個(gè)設(shè)計(jì)原則,可以通過垂直檢測(cè)來檢查出缺陷。對(duì)于PLCC焊點(diǎn),有時(shí)會(huì)出現(xiàn)少錫的情況。由于引腳少 錫的爬升情況和沒有焊錫時(shí)是一樣的,所以對(duì)PLCC焊點(diǎn)不 能通過垂直檢測(cè),而要通過斜角檢測(cè)的方式來檢查少錫缺陷。PCB的整體布局 對(duì)于普通的AXI測(cè)試PCB布局,所有的焊盤都必須進(jìn)行 阻焊處理。這是因?yàn)樽韬笇雍蛯?shí)際的焊盤并沒有真正地接 觸到,在阻焊層和焊盤之間存在著一定的間隙。這樣做的 好處是:焊錫受熱后就可以聚集在焊盤內(nèi),這也使得在XRAY影像中很容易再現(xiàn)焊料的爬升情況。回流焊后檢查提供高度的安全性,因?yàn)樗R(shí)別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯(cuò)誤。

基本優(yōu)化每塊PCB可以采用光學(xué)或者X-ray技術(shù)并運(yùn)用適當(dāng) 的運(yùn)算法則來進(jìn)行檢查?;趫D像檢查的基本 原理是:每個(gè)具有明顯對(duì)比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當(dāng)一些檢查對(duì)象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實(shí)際經(jīng)驗(yàn)和系統(tǒng)化測(cè)試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設(shè)計(jì)來預(yù)防甚至減少的。為了推 動(dòng)這種優(yōu)化設(shè)計(jì),可以運(yùn)用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領(lǐng)域被推崇),它的優(yōu)點(diǎn)包括:器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm(0.12”)的工 藝邊。常熟直銷自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備銷售價(jià)格
回流焊或波峰焊后:少錫/多錫、無錫短接 錫球 漏料-極性-移位腳彎錯(cuò)件.吳中區(qū)通用自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家
錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求,那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點(diǎn):A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對(duì)焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。在ICT上,相對(duì)這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷,而嚴(yán)重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點(diǎn)開路的一個(gè)原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認(rèn)識(shí)到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計(jì)劃內(nèi)。這個(gè)位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個(gè)階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會(huì)產(chǎn)生。吳中區(qū)通用自動(dòng)化缺陷檢測(cè)設(shè)備設(shè)備廠家
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